X荧光硅铝分析仪的技术参数

X荧光硅铝分析仪

X荧光硅铝分析仪 性能特点：

1 、微机化集成为一体，结构紧凑，外形美观。

2、大屏幕液晶显示，全中文菜单提示操作，使用极为方便。

3、分析时间短，1分钟能测出SiO2%、Al2O3%。

4、仪器检测时不破坏样品，样品可重复使用。

5、不用任何化学试剂、无三废排放，不含放射源、低耗电，符合节能要求。　　　

6、数据存储量大，含量结果、仪器自检数据都可查询，避免了打印耗材。

7、仪器执行GB/T19140《水泥X射线荧光分析通则》。

8、可与配料系统联网，实现自动控制。

X荧光硅铝分析仪 技术指标：

1、分析范围: SiO2、Al2O3 0.01%～100 

2、分析精度：标准偏差SSiO2≤0.10%、SAl2O3≤0.08%

3、分析宽度: SiO2(Al2O3) max—SiO2(Al2O3)min≤5%,例如生料中SiO2:10%～15%，通过标定工作曲线选定。

4、分析时间: n*60秒（n为1～5自然数）。

5、使用条件: 供电AC200V～240V；环境温度0～40℃；相对湿度<85%（30℃）。

6、整机功耗: <30W 

7、整机尺寸：468mm*368mm*136mm 

8、整机重量：13.8kg